就
是
對
待
工
作
的
態
度
，
個產品，
做到極致認真
致
每一組數據
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智能型HMDS真空系統（JS-HMDS90-AI）
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潔凈烘箱，百級無塵烘箱
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氮氣烘箱，精密充氮烘箱
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LCP熱處理烘箱，LCP纖維氮氣烘箱
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熱風循環真空烘箱，高溫熱風真空烤箱
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HMDS預處理系統(JS-HMDS90 )
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智能型無塵無氧烘箱（PI烤箱）
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真空無氧固化爐，高溫無氧烘箱
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精密烤膠臺，高精度烘膠機
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超低溫試驗箱，零下-120度高低溫箱
產 品 中 心
products
護套熱沖擊試驗，護套抗開裂卷繞試驗裝置適用范圍
本裝置符合GB/T2951.6、VDE0472Part608、IEC60811-3-1試驗標準。本試驗適用于通用電纜、電線和軟線的最常用類型的絕緣和護套材料。
護套熱沖擊試驗，護套抗開裂卷繞試驗裝置試驗設備
2.1 熱老化箱
2.2 熱沖擊試驗裝置
護套熱沖擊試驗，護套抗開裂卷繞試驗裝置熱沖擊試驗
3.1 取樣
每個被試絕緣線芯應取兩根適當長度的試樣，試樣取自兩處，間隔至少1m。
若有外護層的話，應從絕緣上除去。
3.2 試樣制備
試樣應按下列3種方法中的一種進行制備：
- 對于外徑不超過12.5mm的絕緣線芯，每一試樣是一段絕緣線芯。
- 對于外徑超過12.5mm，絕緣厚度不超過5.0mm的絕緣線芯和所有扇形絕緣線芯，每個試樣應取成絕緣窄條，其寬度至少是絕緣厚度的1.5倍，但不小于4mm。
窄條應沿絕緣線芯的軸線方向切取，如果是扇形絕緣線芯，應在絕緣線芯的“背部”切取。
- 對于外徑超過12.5mm，絕緣厚度超過5.0mm的絕緣線芯，每個試樣應按b）項規定切取窄條，然后窄條的外表面磨或削（避免過熱）到4.0至5.0mm厚。該厚度應在窄條的較厚部分測的。窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。
3.3 試樣卷繞
每個試樣應在環境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，將兩端固定。
試棒直徑和卷繞圈數規定如下：
- 表1適用于按3.2條a項制備的試樣；對于扁平電纜和軟線，試棒直徑應按其短軸尺寸選取，卷繞時使其短軸垂直于試棒。
- 表2適用于按3.2條b項和c項制備的試樣。在這種情況下，試樣的內表面應與試棒接觸。
表1
|
試樣外徑D （mm） |
試棒直徑 （mm） |
卷繞圈數 |
|
D≤2.5 |
5 |
6 |
|
2.5＜D≤4.5 |
9 |
6 |
|
4.5＜D≤6.5 |
13 |
6 |
|
6.5＜D≤9.5 |
19 |
4 |
|
9.5＜D≤12.5 |
40 |
2 |
表2
|
試樣厚度δ （mm） |
試棒直徑 （mm） |
卷繞圈數 |
|
δ≤1 |
2 |
6 |
|
1＜δ≤2 |
4 |
6 |
|
2＜δ≤3 |
6 |
6 |
|
3＜δ≤4 |
8 |
4 |
|
4＜δ≤5 |
10 |
2 |
上表格中，試樣或厚度應用游標卡尺或其它合適的測量工具進行測定。
3.4 加熱和檢查
繞在試棒上的試樣應放入預熱到有關電纜產品標準規定試驗溫度的空氣烘箱中。如果電纜標準沒有規定，則預熱到（150±3）℃。試樣在規定溫度下保持1h。
當試樣達到近似環境溫度后，檢查仍在試棒上的試樣。
3.5 試樣結果的評定
當用正常視力或校正后的視力而不用放大鏡進行檢查時，試樣應無裂紋，
護套熱沖擊試驗，護套熱沖擊試驗
4.1 取樣
每個被試護套應取兩根適當長度的電纜試樣，試樣取自兩處，間隔至少1m。
所有的外護層應除去。
4.2 試樣制備
a）對于外徑不超過12.5mm的護套，每一試樣是一段電纜，但聚乙烯絕緣聚氯乙烯護套電纜除外。
b）對于外徑超過12.5mm，厚度不超過5.0mm的護套的聚乙烯絕緣電纜的護套，每個試樣應是取自護套上的窄條，其寬度至少是護套厚度的1.5倍，但不小于4mm。窄條應沿電纜的軸線方向切取。
c）對于外徑超過12.5mm，厚度超過5.0mm的護套，每個試樣應是按b）項規定切取窄條，然后在窄條的外表面磨或削（避免過熱）到4.0至5.0mm厚。該厚度應在窄條的較厚部分測的。窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。
d）對于扁電纜，如果電纜的寬度不超過12.5mm，每個試樣應是一段完整的電纜。如果電纜寬度超過12.5mm，則每個試樣應是按b項規定從護套上切取的窄條。
4.3 試樣卷繞
每個試樣應在環境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，將兩端固定。試棒直徑和卷繞圈數為：按第4.2條a）項制備的試樣見3.3條a）項的規定；按4.2條b）項和c）項制備的試樣見3.3條b）項規定。試樣的直徑或厚度應用游標卡尺或其它合適的測量工具進行測定。
4.4 加熱和檢查
按3.4條的規定。
4.5 試驗結果的評定
按3.5條的規定。
